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高重復(fù)性非接觸離線分光干涉式測厚儀 TOF-S 是一款桌面型離線分光干涉式厚度測量裝置，主要用于測量電子、光學(xué)用透明平滑薄膜和多層薄膜的厚度。 實(shí)現(xiàn)高重復(fù)性測量，精度可達(dá)±0.01微米以下（取決于被測物和測量條件）。 溫度穩(wěn)定性：受溫度變化影響小，適合在不同環(huán)境條件下使用。 非接觸式測量：采用分光干涉式原理，無需接觸被測物，減少對(duì)被測物的損傷。 可以從薄膜的一側(cè)進(jìn)行測量，適合測量透明涂膜

光學(xué)薄膜桌面型離線接觸式線性測厚儀 桌面型離線接觸式厚度測量裝置，適用于薄膜、高精度塑料薄膜（如聚酰亞胺薄膜、光學(xué)薄膜等）的厚度測量。 自動(dòng)運(yùn)輸測量，確保測量數(shù)據(jù)的一致性，無個(gè)人差異。 厚度分布雷達(dá)圖：可用于調(diào)整膨脹薄膜，直觀展示厚度分布。 高精度測量：接觸式測量，最小顯示值可達(dá)0.01微米。

薄膜研發(fā)用離線靜電容量式非接觸式測厚儀 測量精度可達(dá)±0.01μm，能夠?qū)崿F(xiàn)高重復(fù)性和高穩(wěn)定性的測量。 測量范圍廣：測量范圍為0-500μm，工作區(qū)間為10-230μm，可滿足多種薄膜材料的厚度測量需求。 快速測量：測量速度為100ms/點(diǎn)，能夠快速完成測量，提高工作效率。

日本yamabun非接觸式半導(dǎo)體薄膜測厚儀 測量精度可達(dá)±0.01μm，能夠?qū)崿F(xiàn)高重復(fù)性和高穩(wěn)定性的測量。 測量范圍廣：測量范圍為0-500μm，工作區(qū)間為10-230μm，可滿足多種薄膜材料的厚度測量需求。 快速測量：測量速度為100ms/點(diǎn)，能夠快速完成測量，提高工作效率。

日本yamabun山文非接觸式防塵膜測厚儀 測量精度可達(dá)±0.01μm，能夠?qū)崿F(xiàn)高重復(fù)性和高穩(wěn)定性的測量。 測量范圍廣：測量范圍為0-500μm，工作區(qū)間為10-230μm，可滿足多種薄膜材料的厚度測量需求。 快速測量：測量速度為100ms/點(diǎn)，能夠快速完成測量，提高工作效率。

日本yamabun山文電容式非接觸測量測厚儀 采用電容式傳感技術(shù)，通過測量極板間介電常數(shù)的變化來確定厚度，是非接觸式測量方式。這種方式特別適用于難以用接觸式測量的薄膜，即使表面狀況粗糙，也可以進(jìn)行測量。 自動(dòng)介電常數(shù)設(shè)置功能：具有自動(dòng)介電常數(shù)設(shè)置功能，簡化了操作流程。

日本yamabun山文桌上型PET薄膜測厚儀 接觸式測量：采用高精度的機(jī)械接觸測量技術(shù)，通過高精度的傳感器與被測物體表面接觸，直接測量物體的厚度，確保了測量的高精度和高重復(fù)性。 自動(dòng)運(yùn)輸測量：設(shè)備采用自動(dòng)運(yùn)輸方式，確保測量數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性和一致性，減少了人為誤差

日本yamabun山文薄膜研發(fā)品質(zhì)管理用測厚儀 接觸式測量：采用高精度的機(jī)械接觸測量技術(shù)，通過高精度的傳感器與被測物體表面接觸，直接測量物體的厚度，確保了測量的高精度和高重復(fù)性。 自動(dòng)運(yùn)輸測量：設(shè)備采用自動(dòng)運(yùn)輸方式，確保測量數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性和一致性，減少了人為誤差