高重復性非接觸離線分光干涉式測厚儀
高重復性非接觸離線分光干涉式測厚儀

產(chǎn)品特點

• 高精度測量：實現(xiàn)高重復性測量，精度可達±0.01微米以下（取決于被測物和測量條件）。
• 溫度穩(wěn)定性：受溫度變化影響小，適合在不同環(huán)境條件下使用。
• 非接觸式測量：采用分光干涉式原理，無需接觸被測物，減少對被測物的損傷。
• 反射型測量：可以從薄膜的一側(cè)進行測量，適合測量透明涂層膜層的厚度（取決于測量條件）。
• 適用范圍廣：適用于研究、檢查用的離線類型以及生產(chǎn)過程中使用的在線類型。

技術(shù)規(guī)格

• 測量厚度范圍：
• 薄物用：1～50微米
• 厚物用：10～150微米
• 測量長度范圍：50～5000毫米
• 測量間距：1毫米及以上
• 最小顯示值：0.001微米
• 電源電壓：AC100V，50/60Hz
• 使用溫度范圍：5～45℃（測量時溫度變化1℃以內(nèi)）
• 濕度范圍：35～80%（無冷凝）
• 測量面積：φ0.6毫米
• 測量間隙：約30毫米

適用場景

• 電子和光學領域：適用于測量電子和光學用透明平滑薄膜、多層薄膜等。
• 研發(fā)和質(zhì)量控制：可用于研究和開發(fā)過程中的厚度測量，以及生產(chǎn)過程中的質(zhì)量控制。